高精度極片測厚儀適(shi)用包裝塑料薄膜、紙(zhi)張、電容(rong)BOPP薄(bo)膜(mo)、金屬鋁箔、太陽(yang)能電池硅片等硬質和軟質材料厚(hou)度精確測(ce)(ce)(ce)量。采(cai)用全(quan)自動測(ce)(ce)(ce)試模式，可(ke)連續測(ce)(ce)(ce)量也可(ke)單(dan)點測(ce)(ce)(ce)量模式，測(ce)(ce)(ce)試分辨率高達0.0001mm。

測試原理采(cai)用接(jie)觸(chu)式測(ce)試(shi)，截(jie)取一定(ding)尺寸試(shi)樣，測(ce)厚儀測(ce)量頭自動降落于試(shi)樣之上，依靠固定(ding)的(de)壓力(li)和固定(ding)的(de)接(jie)觸(chu)面積下測(ce)試(shi)出試(shi)樣的(de)厚度值。

高精度極片測厚儀

技術特征

★測量(liang)頭自動升降，避免(mian)了人為(wei)因素造(zao)成(cheng)的系統誤差

★微電腦控制(zhi)、大液(ye)晶顯示

★手動、自動雙重測量(liang)模式，更方便客戶選擇

★配備微(wei)型打印機，數據實時顯示(shi)、自(zi)動(dong)統計、打印，方(fang)便快捷地獲取測試結(jie)果

★測厚儀自動保存(cun)最多(duo)100組測試結果，隨時查看并打印

★標(biao)準量(liang)塊(kuai)標(biao)定,方便用戶快速標定設備

滿足標(biao)準：

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

技(ji)術指標

測量范圍：0～2mm（常規）

分(fen) 辨 率：0.1μm

測量速度：10次(ci)/min（可(ke)調）

測量(liang)壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張(zhang)） 

接觸面(mian)積(ji)：50mm²（薄(bo)膜(mo)）；200mm²（紙張） 

注：薄膜、紙(zhi)張任選一種(zhong)；非標(biao)可定制

電(dian)    源：AC 220V 50Hz

外(wai)形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)

凈    重：30kg

產(chan)品配置

標準配置：主機(ji)、微(wei)型打印機(ji)、標(biao)準量(liang)塊一件(jian)

選(xuan)購件：專業軟件、通信(xin)電(dian)纜(lan)、測量頭、配重(zhong)砝碼、自動進樣器